IC-pakkauksen vaurioituminen alhaisissa lämpötiloissa virrattomana johtuu mekaanisista vaikutuksista; erot lämpölaajenemiskertoimissa epoksin, lyijykehyksen ja muotin välillä.

Käyttöongelmat johtuisivat lisääntyneestä resistanssista (puolijohteiden vastuskerroin lämpötilaan on negatiivinen). Kun lämpötila ja dopingipitoisuus ovat riittävän alhaiset, puolijohteet muuttuvat olennaisesti eristeiksi eivätkä johda ollenkaan aiheuttaen määrittelemätöntä toimintaa. jännite viittaa käynnistykseen.

Teoriassa, jos jokin transistori "epäonnistuu" kantoaallon jäätymisen takia, IC voi vahingoittaa itseään muualla (ei kovin todennäköistä, koska useimmat vikatilat ovat lämpö, ​​ja kaikki suuttimessa on hyvin tiukasti kytketty.)

Katso lisätietoja opetussivuilta täältä.

Muokkaa:

Kuten huomautat, useimmat laitteet ovat karakterisoitu välillä yleensä -40 ° C - +85 ° C. Mikään ei sano, että ne eivät laske kryogeenisiin lämpötiloihin.

Voit luonnehtia osia itse alle -40, ja mekaaniset viat voidaan suurelta osin välttää, jos lämpötilakierros on hidas.

Jotkut pakettivaihtoehdot toimivat, jotkut eivät. heheh. sinun on tehtävä tämä kokeilu itse.

Voit itse karakterisoida alle 0 ° C: n lämpötilan osia (helposti käyttämällä kotitalouksien pakastinta.) kamerasiruissaan ja A / D-muuntimissaan.

Äärimmäisissä olosuhteissa asenna lämmittimet merkittäviin osiin (suuret korkit, ongelma-IC: t.) ve ominaista.

Lukuun ottamatta kylmän piin fyysisiä ominaisuuksia, -40 / 85C sopii yleensä tiukimpiin olosuhteisiin, joita useimmat ihmiset tarvitsevat (kaupalliset / teolliset).

Laitteen luonnehtiminen on käytännössä erittäin aikaa vievää prosessia, koska se vaatii testauslaitteita ja muita laitteita, jotka pystyvät lämpötila-alueelle. Kyse ei ole parempien pakastimien ostamisesta, koska monille laitteille on ominaista käyttää samaa testauslaitetta kuin tuotannon testauksessa. Hauska osa on kerätä ja jäsentää karakterisointitietoja vain ymmärtääksesi, että testivalaisin jäätyi ja alkoi kerätä roskatietoja.